12月17日下午，萬慧達知識產(chǎn)權首席合伙人白剛一行拜訪日本特許廳，日本特許廳商標課長根岸克弘、商標審查企劃官水落洋、審查業(yè)務部商標課商標制度審查室室長莊司美和商標課品質(zhì)管理班長竹之內(nèi)正隆接待來訪。
會談中，根岸克弘代表日本特許廳對萬慧達知識產(chǎn)權一行的來訪表示歡迎，并就日本商標審查和相關法律修改情況做了詳細介紹。白剛介紹了萬慧達知識產(chǎn)權的機構概況以及此次在日本出版《中國知識產(chǎn)權合規(guī)指引》（日文版）一書的背景并向特許廳相關專家贈送了新書。隨后，特許廳專家邀請來訪人員參觀了特許廳內(nèi)部審查系統(tǒng)并演示了模擬檢索工作。
萬慧達知識產(chǎn)權管委會成員、合伙人李斌，合伙人劉鋒、何姍妹，北京君策知識產(chǎn)權發(fā)展中心副理事長汪澤，正林國際特許商標事務所佐藤淳、志賀未知子一同參加了座談和參觀。
